通過單顆粒光學傳感(SPOS)對CMP漿料進行超靈敏的在線監(jiān)測
我們已經開發(fā)了一個強大的工具,可以對CMP漿料進行連續(xù)的在線監(jiān)控。我們的新AccuSizer 780 / OL系統(tǒng)基于單顆粒光學傳感(SPOS)技術,可以快速,地確定大于0.5微米的“異常”顆粒的粒徑分布(PSD),這可能會導致嚴重的缺陷。拋光過程中的晶圓表面。 PSD中這些大顆粒“尾巴”的來源包括漿液分配系統(tǒng)中的泵和過濾器不良,以及由于pH或熱沖擊引起的膠體不穩(wěn)定性的發(fā)生,以及其他影響。與“集成”方法(例如激光衍射(將亞微米區(qū)域的Mie散射與1微米以上的Fraunhofer衍射結合在一起))相比,SPOS技術僅對總粒子數量的一小部分敏感,例如,大于0.5μm的顆粒。但是,SPOS方法可為這些較大的顆粒提供真實的分布,而不會出現嚴重困擾激光衍射的嚴重偽影。由于SPOS方法具有較高的靈敏度和分辨率,因此很容易揭示出較大的離群值(通常是較小的基團的團聚體)的濃度變化很小。這些“細節(jié)”對于評估CMP漿料的質量至關重要,但通常會被諸如激光衍射或超聲衰減之類的集成方法忽略。 780 / OL系統(tǒng)利用專有的兩階段自動稀釋系統(tǒng),該系統(tǒng)可以容納組成和濃度變化很大的漿料。 SPOS傳感器基于新穎的設計,該技術結合了光散射和消光的物理原理,使其能夠實現高靈敏度和寬動態(tài)范圍(0.5至400μm)。的電子設計可產生高分辨率和穩(wěn)定性的多通道PSD結果。該系統(tǒng)易于實現,可以在Windows NT下作為應用程序進行操作。作為在線系統(tǒng)的選件,可以提供“ DLS”(動態(tài)光散射)模塊,該模塊能夠表征CMP漿料的整個亞微米PSD。將對二氧化硅,氧化鋁和氧化鈰CMP漿料的基本原理以及代表性PSD結果進行審查。
I.技術-簡要摘要
A.單粒子光學傳感(SPOS)
· 問題:定量確定CMP漿料的粒度分布(PSD)中大顆粒“離群值”的濃度/大小
· 解決方案:具有自動稀釋功能的單顆粒光學傳感(SPOS)
· 兩種SPOS技術,它們可以檢測穿過小的光學傳感區(qū)域(≈30×400×1000μm)的單個粒子:
· 消光(LE)–跨流道的透射光強度的瞬時小幅減?。ㄓ杏玫拇笮》秶?/span>≈1.5至≈400μm)
· 光散射(LS)–在一定的散射角范圍內,光強度會瞬時增加(有用的尺寸范圍:≈0.5至≈3-5μm)
· SPOS提供了丨高分辨率的單顆粒檢測。 SPOS可以真實地顯示CMP漿料的粒徑分布(PSD)的大顆粒“尾巴”(≥0.5μm),這與“集成”方法不同。 激光衍射,超聲衰減,光學濁度
· SPOS與集成方法:對有問題的異常粒子的一小部分的詳細“快照”,以及整個PSD的全局圖片
· SPOS提供了真實的PSD粒子數量與直徑的關系(8到512個通道),無需假設PSD的形狀
· 大動態(tài)范圍–≈0.5至400μm(新傳感器設計,請參見下文)
· 高速和可重復性–通常在1-2分鐘的分析時間內對100,000至500,000個顆粒進行計數和尺寸調整
· 在線監(jiān)測的理想選擇,當與用于自動稀釋濃縮CMP漿料的機制一起使用時(通常需要5-10毫升)
· 與動態(tài)光散射(DLS)技術兼容,可以提供整個“幾乎亞微米” PSD的有用的全局“快照” –可以用于在線CMP漿料監(jiān)控
· 專有的傳感器設計–“ LE + LS”。 結合了LE技術(大尺寸范圍和對顆粒成分的相對不敏感性)和LS方法(高靈敏度,低顆粒直徑限制)的優(yōu)勢。 參見下面的圖1。
Figure 1: Simplified block diagram of a combination “LE+LS” sensor (Pat.)
· 下面的圖2顯示了LE400-05SE傳感器(標稱尺寸范圍為0.5-400μm)的典型響應(校準曲線),它結合了消光(LE)和光散射(LS)響應。
Figure 2: Typical response (pulse height vs particle size) for “LE+LS” sensor.
B.自動樣品稀釋
· 已經開發(fā)出兩種自動稀釋濃縮CMP漿料的方法,它們非常適合在線應用:
· 自動#1 –單級自動稀釋系統(tǒng),基于注入的CMP濃縮漿的連續(xù),指數稀釋。 主要優(yōu)點:簡單,速度快(圖3A)
·V =稀釋室中液體的體積(ml)
·ΔV=捕獲/注入的濃縮漿液樣品的體積(ml)
·FD =進入稀釋室的過濾后稀釋液的流速(ml / s)
·CS =濃縮漿液樣品中的顆粒濃度(#/ ml)
·C(t)=穿過傳感器的流體中的顆粒濃度(#/ ml)
·C(t)= C0 exp(-t /τ),其中τ= V / FD和C0≈(ΔV/ V)CS(ΔV<< V)
· 自動裝置#2 –兩階段自動稀釋系統(tǒng),基于預先稀釋的CMP漿料的穩(wěn)態(tài)混合流稀釋。 主要優(yōu)點:靈活性強,稀釋范圍廣(以簡化形式顯示,圖3B)
·V1 =預稀釋室中的液體體積(ml)
·FS =預稀釋樣品進入第二級稀釋器的流速(ml / s)
·FD =稀釋劑進入第二級稀釋器的流速(ml / s)
DF1 ≈ V1/ΔV ;
DF2 = 1 + FD/FS
Figure 3a: Single-stage Autodilution module, AccuSizerTM 780/ONLINE system Figure 3b: Two-stage Autodilution module, AccuSizerTM 780/ONLINE system
II.技術-簡要介紹
圖4:用于自動監(jiān)控濃縮CMP漿料的AccuSizerTM 780 / ONLINE光學粒度儀。
三, AccuSizer結果—簡要介紹
圖5:通過DLS(NICOMP 380)獲得的“”氧化鈰漿料(#1)的近似PSD –簡單的“高斯”(2參數)分析,體積重量平均直徑為324 nm(0.32μm) ,且適合度高(chi sq = .25)
圖6:通過Fraunhofer(激光)衍射獲得的氧化鈰#1的體積-重量PSD,這是另一種“集成”方法-體積-重量的平均直徑也≈0.3μm。
圖7:使用SPOS(AccuSizer 780)為氧化鈰#1中較大顆粒(直徑> 1.09μm)的異常“尾部”獲得的PSD。 在60秒的分析過程中,確定大小的顆粒總數為475,982。
圖8:從對應于圖7 PSD的原始“通道”數據獲得的氧化鈰#1中的顆粒數/ ml估計值與粒徑的關系。
圖9:通過DLS對“不良”氧化鈰漿料(#2)獲得的PSD結果(強度和體積-重量)。 由于高斯擬合的高chi-sq值(35),因此使用了多模式“ Nicomp”分析。 雙峰PSD在0.37μm處顯示了預期的“主要”峰,在3.5μm處顯示了第二個峰,代表較大顆粒/聚集體的“尾部”。
圖10:通過弗勞恩霍夫(激光)衍射獲得的氧化鈰#2的體積-重量PSD。 曲線“ A”代表未經處理從樣品獲得的結果,與預期的PSD幾乎沒有相似之處。 超聲處理30秒后獲得曲線“ B”,產生以≈0.4μm為中心的預期峰。 第二個峰明顯夸大了異常的“尾巴”。